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薄膜紙張高精度測厚檢測儀
簡要描述:

薄膜紙張高精度測厚檢測儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-03-10
  • 訪  問  量:1718

詳細介紹

品牌SYSTESTER/思克價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應用領域包裝/造紙/印刷

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

主要特點

接觸式測量原理

測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動、循環(huán)、預約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

內(nèi)嵌值、平均值、標準差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能

本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機,可自動打印單次、統(tǒng)計報告

配置標準通信接口

可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理(選購)

技術指標

測量范圍:02mm(標配)010mm(可選)

率:0.1μm

測量速度:1~25/min(可調(diào))

頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標配)

    張:200mm250±1kPa(可選)

    源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

   重:38kg

執(zhí)行標準

GB/T 6672、GB/T 451.3GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜紙張高精度測厚檢測儀

產(chǎn)品配置

主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件

注:產(chǎn)品技術規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權與解釋權!


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