薄膜厚度檢測(cè)儀

適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。

主要特點(diǎn)

接觸式測(cè)量原理

測(cè)厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機(jī)交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動(dòng)、循環(huán)、預(yù)約定時(shí)多種測(cè)量模式

測(cè)試過程全自動(dòng)完成

內(nèi)嵌zui大值、值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能

本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機(jī)，可自動(dòng)打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告

配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購(gòu)）

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測(cè)量速度：1~25次/min（可調(diào)）

測(cè)量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）

紙張：200mm2，50±1kPa（可選）

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜厚度檢測(cè)儀

產(chǎn)品配置

主機(jī)、薄膜測(cè)量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！